电子元器件是整机的基础,它在制造历程中可能会由于自己固有的缺陷或制造工艺的控制不当,可能会导致与时间或应力相关的故障。为了包管整批元器件的可靠性,满足整秘密求,必须把使用条件下可能泛起初期失效的元器件剔除。
元器件的失效率随时间变革的历程可以用类似“浴盆曲线”的失效率曲线来描述,早期失效率随时间的增加而迅速下降,使用寿命期(或称偶然失效期)内失效率基本稳定。
恒温恒湿试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学质料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子质料之物理特变革,测试其质料对高、低温的重复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变革或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件都会用到,是各行业领域对产品测试的必不可少的一项情况试验箱。
1、高温贮存
电子元器件的失效大大都是由于体内和外貌的种种物理化学变革所引起,它们与温度有密切的关系。温度升高以后,化学反应速度大大加速,失效历程也获得加速。使得有缺陷的元器件能实时袒露,予以剔除。
高温筛选在半导体器件上被广泛接纳,它能有效地剔除具有外貌沾污、键合不良、氧化层有缺陷等失效机理的器件。通常在最高结温下贮存24~168小时。
高温筛选简单易行,用度不大,在许多元器件上都可以施行。通过高温贮存以后还可以使元器件的参数性能稳定下来,减少使用中的参数漂移。种种元器件的热应力和筛选时间要适中选择,以免爆发新的失效机理。
2、功率电老炼
筛选时,在热电应力的配相助用下,能很好地袒露元器件体内和外貌的多种潜在缺陷,它是可靠性筛选的一个重要项目。
种种电子元器件通常在额定功率条件下老炼几小时至168小时,有些产品,如集成电路,不可随便改变条件,但可以接纳高温事情方法来提高事情结温,抵达高应力状态,种种元器件的电应力要适中选择,可以即是或稍高于额定条件,但不可引人新的失效机理。
功率老炼需要专门的试验设备,其用度较高,故筛选时间不宜过长。民用产品通常为几个小时,军用高可靠产品可选择 100、168小时,宇航级元器件可以选择240小时甚至更长的周期。
3、温度循环
电子产品在使用历程中会遇到差别的情况温度条件,在热胀冷缩的应力作用下,热匹配性能差的元器件就容易失效。温度循环筛选利用了极端高温和极端低温间的热胀冷缩应力,能有效地剔除有热性能缺陷的产品。元器件常用的筛选条件是-55~+125℃,循环5~10次。
4、元器件筛选的须要性
电子元器件的固有可靠性取决于产品的可靠性设计,在产品的制造历程中,由于人为因素或原质料、工艺条件、设备条件的波动,最终的制品不可能全部抵达预期的固有可靠性。在每一批制品中,总有一部分产品保存一些潜在的缺陷和弱点,这些潜在的缺陷和弱点,在一定的应力条件下体现为早期失效。具有早期失效的元器件的平均寿命比正常产品要短得多。电子设备能否可靠事情的基础是电子元器件能否可靠地事情。如果将早期失效的元器件装上整机、设备,就会使得整机、设备的早期失效故障率大幅度增加,其可靠性不可满足要求,并且还要支付极大的价钱来维修。因此,应该在电子元器件装上整机、设备之前,就要设法把具有早期失效的元器件尽可能地加以排除,为此就要对元器件进行筛选。凭据海内外的筛选事情经验,通过有效的筛选可以使元器件的总使用失效率下降1- 2个数量级,因此不管是军用产品照旧民用产品,筛选都是包管可靠性的重要手段。
球盟会官网接纳恒温恒湿试验箱或崎岖温试验箱对电子元器件进行崎岖温试验,这两种设备也是检验电子产品,质料、电工、仪器仪表的种种性能指标重要设备。通过崎岖温试验可以测试产品零件、质料可能爆发软化、效能潜在破坏、氧化等现象,从而革新产品质量。
主要技术参数(标箱):
内箱尺寸(D*W*H):100*100*100cm
箱体内容积:1000L
温度规模:-70℃~150℃
湿度规模:25%~95%RH
升温速率:-70℃~150℃:3.5℃/min(30kg铝锭);
降温速率:+150℃~-70℃:1.5℃/min(30kg铝锭);
最大电热负载:(60℃,95%RH),2000W
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